10月16~18日，第十届中国二次离子质谱（SIMS）会议在西安召开。本届会议以“聚焦前沿，共话未来：SIMS技术的挑战、创新与应用新边界”为主题，来自全国高校、科研院所及工业界的160余位专家学者、青年研究人员齐聚一堂，围绕二次离子质谱技术的最新进展和未来方向展开深入交流。会议共安排43场学术报告和21份墙报展示，深入探讨我国在SIMS领域的最新进展。

在本次会议的学术交流中，我中心陈平研究员应邀做了题为“连续束高分辨飞行时间二次离子质谱研究进展”的专题报告，展示了我中心在该领域的最新研究进展；吴称心副研究员以其“连续束飞行时间二次离子质谱中低场提取系统的研制”墙报从众多参评作品中脱颖而出，荣获大会颁发的优秀墙报奖。

第十届中国二次离子质谱会议的召开，对于促进我国分析仪器技术自主创新具有重要意义。中国二次离子质谱会议作为高水平学术交流平台，在促进国内外学者深度对话与合作、推动中国SIMS技术研究与应用水平持续提升方面取得了显著成效。值得关注的是，2026年国际SIMS会议将由香港科技大学（广州）主办。这是国际SIMS会议首次由中国主办，标志着我国在SIMS领域的研究水平和发展速度获得了国际学界的广泛认可。