2024年9月8日至9月13日，第23届国际二次离子质谱会议在法国拉多谢尔（La Rochelle）市顺利召开。我组李海洋研究员、陈平研究员和陈懿博士研究生参加了此次会议。

在会议中，李海洋研究员的口头报告题目为“Correlated Microscope/TOF-SIMS Imaging Mass Spectrometry with Continuous C₆₀ Ion Beam”，介绍了光学显微成像技术在二次离子质谱分析中的重要性，以及自主研制的Schwarzschild型显微镜相较于商品化仪器中的光学显微镜的实时在线成像的优势，并介绍了连续束飞行时间质谱的实验结果和未来的研究计划。

陈平研究员的口头报告题目为“High Mass Resolution Multireflection Time-of-Flight Secondary Ion Mass Spectrometry”，介绍了上一代多次反射式飞行时间二次离子质谱的搭建结果以及新一代仪器的研究现状。

研究生博士陈懿的海报题目为“Design method and construction of the Schwarzschild microscope with high numerical aperture for SIMS”，介绍了二次离子质谱中的光学显微镜的搭建情况以及耦合激光溅射的搭建进展。

通过会场报告、墙报展示和会场交流，我们组在向国际同行展现自主研发的二次离子质谱仪器，也广泛地了解了国际上二次离子质谱的研究方向和进展情况。