国际二次离子质谱（SIMS）会议是质谱和表面分析领域非常重要的国际会议，会议每两年召开一次，每次都吸引数百名来自世界各地的二次离子质谱研究人员参加。该会议涉及二次离子质谱的各个方面，包括仪器技术、离子束与表面作用机理以及在材料、生命科学等领域的应用，旨在为国际同行们提供二次离子质谱的最新科研进展，鼓励领域内的学者加强学术交流与合作。

本次会议上，李海洋老师做了题为“An Ion-storage Time-of-Flight Mass Spectrometer for High Sensitive SIMS Study”的口头报告，陈平副研究员做了题为“Design and Construction of High Resolution Secondary Ion Time-of-Flight Mass Analyzer”的墙报。同时，两位老师针对质谱仪器研制及样品分析等有关问题与国际同行进行了深入的学术交流，力争开展相关领域的合作。

通过口头报告、墙报和会场交流，我组与国际同行增进了相互了解，相关研究成果得到了国际同行的认可。与此同时，我组在质谱仪器研制及应用方面得到了很多宝贵的建议，明确了下一步的研究目标和方向，促进了我组在二次离子质谱领域的发展。（文/于艺 图/陈平）